- الصفحة الرئيسية /
- الكتب /
- Engineering & Transportation /
- Engineering /
- Electrical & Electronics /
- Circuits /
- Design /
- Design for Testability, Debug and Reliability...
0 ratings
منتج #:
269669969
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
منتج #:
269669969
OMR 49
تفاصيل السعر
باستثناء رسوم الشحن والجمارك ( سيتم احتساب رسوم الشحن والجمارك عند إتمام الشراء )
*سيتم استيراد جميع العناصر من أمريكا
0 ratings
اكتب رأيك
متوفر فى المخزون
مستورد من متجر USA
كمية:
اطلب الآن واحصل عليه حول Sunday, نوفمبر 01
معاملة آمنة
تعمل يوباي جاهدة لحماية أمنك وخصوصيتك. يضمن نظام أمان الدفع المتقدم لدينا السرية من خلال تشفير معلوماتك أثناء النقل باستخدام بروتوكولات AES (معايير التشفير المتقدمة) وSSL (طبقة المنافذ الآمنة). تفاصيل الدفع الخاصة بك آمنة بنسبة %100 لأننا لا نشارك تفاصيل الدفع الخاصة بك مع بائعين تابعين لجهات خارجية
أفضل شركائنا اللوجستيين
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, ensuring reliability even in safety-critical applications.
شحن
سريع
استرجاع
مجاني*
تغليف آمن
منتجات أصلية %100
الامتثال لمعيار PCI DSS
حاصل على شهادة ISO 27001
Note: Step Down Voltage Transformer required for using electronics products of أمريكا store (110-120). Recommended power converters اشتري الآن.
تفاصيل المنتج
- This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.
| Publisher | Springer |
| Publication date | April 20, 2021 |
| Edition | 2021st |
| Language | English |
| Print length | 185 pages |
| ISBN-10 | 3030692086 |
| ISBN-13 | 978-3030692087 |
| Item Weight | 1 pounds (450 grams) |
| Dimensions | 6.14 x 0.5 x 9.21 inches (15.6 x 1.3 x 23.4 cm) |
وصف المنتج
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
هل لديك أي استفسار؟ تحدث معنا
أسئلة العملاء & الإجابات
-
سؤال:
كيف تتسوق Design for Testability, Debug and Reliability: Next عبر الانترنت من يوباى?
إجابه: من السهل التسوق في Design for Testability, Debug and Reliability: Next عبر الإنترنت من يوباي. كل ما عليك فعله هو البحث عن المنتج واختيار طريقة الشحن الخاصة بك أثناء الدفع وسيتم توصيله الى عنوانك -
سؤال:
هل Design for Testability, Debug and Reliability: Next متوفر للتسوق عبر الإنترنت في Oman؟
إجابه: نعم ، في يوباي Oman هذا المنتج متاح لك للتسوق بسعر مناسب. Design for Testability, Debug and Reliability: Next غير متوفر محليًا ولكن يمكنك الوثوق بنا بخدماتنا للشحن السريع. -
سؤال:
كم من الوقت يستغرق الحصول على المنتج بعد تقديم الطلب؟
إجابه: يختلف وقت تسليم المنتج الذي طلبته حسب ما طلبته وطريقة الشحن التي اخترتها. يتم ذكر وقت التسليم المقدر أثناء عملية الدفع ، لذا كن مرتاحًا أثناء التسوق.
Design Editorial Review
لم يتم العثور على مراجعات تحريرية
مراجعات العملاء وتقييماتهم
2 تقييمات العملاء
-
5 نجمة
100%
-
4 نجمة
0%
-
3 نجمة
0%
-
2 نجمة
0%
-
1 نجمة
0%
أضف تقييم لهذا المنتج
شارك أفكارك مع عملاء آخرين
تاريخ سعر المنتج
معلومات مهمة
- القيود: بالنسبة للمنتجات التي يتم شحنها دولياً، يُرجى ملاحظة أن أي ضمان من الشركة المصنعة قد لا يكون صالحاً؛ قد لا تتوفر خيارات خدمة الشركة المصنعة؛ قد لا تكون أدلة المنتج والتعليمات وتحذيرات السلامة مكتوبة بلغة بلد المقصد؛ قد لا يتم تصميم المنتجات (والمواد المصاحبة لها) وفقاً لمعايير بلد الوجهة والمواصفات ومتطلبات الملصقات؛ وقد لا تتوافق المنتجات مع الجهد الكهربي المستخدم في بلد الوجهة والمعايير الكهربائية الأخرى (تتطلب استخدام محوّل كهربي أو جهاز تحويل إذا كان ذلك مناسباً). المستلم مسؤول عن ضمان إمكانية استيراد المنتج بشكل قانوني إلى بلد الوجهة. عند الطلب من يوباي أو الشركات التابعة لها، يكون المستلم هو المستورد المسجل ويجب أن يلتزم بجميع القوانين واللوائح الخاصة ببلد الوجهة.
- ليست كل المنتجات المدرجة على يوباي معروضة للبيع، لأن يوباي هو محرك بحث عالمي. المنتجات تخضع للوائح التصدير / التجارة.
OMR 49
اطلب الآن واحصل عليه حول Sunday, نوفمبر 01
هذا المنتج غير ممنوع في بلدي. (الرجاء الضغط على الرابط أعلاه إذا لم يكن هذا المنتج ممنوعاً في بلدك ، لذلك سيقوم فريقنا بمراجعته والسماح به.)
كمية:
معاملة آمنة
نوفر لك مدفوعات مشفّرة، وحماية متكاملة للمشتري، مع الالتزام بمعايير PCI DSS وشهادة ISO 27001:2022 لضمان أعلى مستويات الأمان في كل عملية شراء.
أفضل شركائنا اللوجستيين
أسرع توصيل عبر الحدود
المميزات والفوائد
- Presents innovative methods for future integrated circuits.
- Focuses on design for testability, debug, and reliability.
- Addresses challenges of test data volume and application time.
- Utilizes formal techniques like SAT and BMC for enhanced performance.
- Provides extensive evaluations of methods against industry benchmarks.
- Integrates measures into a standardized software/hardware framework.
ضمان Ubuy
تسوّق بثقة مع منتجات أصلية %100، ومدفوعات آمنة متوافقة مع معيار PCI DSS، وحماية بيانات معتمدة وفق ISO 27001، وشحن دولي سريع، وإرجاع مجاني*، وتغليف آمن لكل طلب.